
>
621.38
Солонин, В. Ю.Токовый локализатор внутрисхемных неисправностей / В. Ю. Солонин //
Солонин, В. Ю.
Радіоаматор : наук.-попул. журн. - 2009. - N 3. - С. 38-41.
(Шифр в БД Р855644/2009/3)
Анотація:
В статье показана возможность производительного отыскания неисправностей в радиоэлектронных блоках путем их сравнений с заведомо исправными блоками по значениям втекающих и вытекающих токов, задаваемых цепями. Найдена возможность автоматизации такого контроля с помощью микропроцессора, используя всего лишь один щуп, что ликвидировало необходимость затраты времени на отыскание точек соединения диагностического прибора с контролируемым блоком, индикации координат неисправной цепи и последущего ее отыскания по этим координатам. Щуп, как указка, показывает на цепь с неисправностью во время высокопроизводительного контроля, заключающегося в проведении щупом без задержек подряд через все печатные проводники или выводы микросхем непосредственно у их корпуса. Предложен второй алгоритм, который в отличии от первого не требует эталонного блока, а использует информацию о предварительно сымитированных неисправностях. До минимума упрощено обрамление микропроцессора, даже ОЗУ не понадобилось. Возможно изменение функциональных возможностей прибора, изменив лишь программу.
(Шифр в БД Р855644/2009/3)
УДК | |
621.38 |
Анотація:
В статье показана возможность производительного отыскания неисправностей в радиоэлектронных блоках путем их сравнений с заведомо исправными блоками по значениям втекающих и вытекающих токов, задаваемых цепями. Найдена возможность автоматизации такого контроля с помощью микропроцессора, используя всего лишь один щуп, что ликвидировало необходимость затраты времени на отыскание точек соединения диагностического прибора с контролируемым блоком, индикации координат неисправной цепи и последущего ее отыскания по этим координатам. Щуп, как указка, показывает на цепь с неисправностью во время высокопроизводительного контроля, заключающегося в проведении щупом без задержек подряд через все печатные проводники или выводы микросхем непосредственно у их корпуса. Предложен второй алгоритм, который в отличии от первого не требует эталонного блока, а использует информацию о предварительно сымитированных неисправностях. До минимума упрощено обрамление микропроцессора, даже ОЗУ не понадобилось. Возможно изменение функциональных возможностей прибора, изменив лишь программу.
Кількість примірників на окремих абонементах
# | Відділ | Всього примірників | Вільних примірників |
---|
Інвентарні номери примірників на окремих абонементах
# | Відділ | інвентарні номери |
---|
# | Факультет | Спеціальність | Дисципліна | Семестр |
---|
# | Посилання | Кількість завантажень / переходів |
---|