Патентна експертиза "по-американськи" / І. Абдуліна, М. Крук //
Інтелект. власність : наук.-практ. журн. - . - N 4. - С. 48-57. - ISSN 1608-6422.
(Шифр в БД І352842/2011/4)
Ключові слова: кількість заявок -- количество заявок -- подання заявок -- подача заявок -- відділ з контролю якості -- отдел по контролю качества -- комплексній індикатор якості -- комплексный индикатор качества -- тренінги -- тренинги -- право повного підпису -- право полной подписи -- повторна перевірка відмови -- перепроверка отказа -- перевірка пошуку -- проверка поиска -- навчання експертів -- обучение экспертов -- програма -- программа -- мита -- пошлины -- регіональні офіси -- региональные офисы -- американський патент -- американский патент -- вартість отримання -- стоимость получения --
Додаткові точки доступу: