551.510.534:621.383.52
Метрологичний комплекс для перевірки і градуювання оптоелектронних приладів, чутливих в ультрафіолетовому діапазоні [Текст] / Б. Шабашкевич, Ю. Добровольський, В. Юрєв //
Метрологія та прилади : наук.-вироб. журн. - . - № 2. - С. 14-20. - Бібліогр. наприкінці ст..
(Шифр в БД -166976/2016/2)
УДК
551.510.534:621.383.52
551.510.534
621.383.52

Ключові слова: метрологічне обладнання -- метрологическое оборудование -- ультрафіолетовий діапазон -- ультрафиолетовый диапазон -- параметри вимірювання -- параметры измерения -- оптоелектронні прилади -- оптоелектронные приборы -- похибки -- погрешности --
Анотація:
Розроблено комплекс метрологічного обладнання для забезпечення метрологічних досліджень ЗВТ, призначених для вимірювання таких параметрів УФ випромінювання як енергетична освітленість, спектральний діапазон та нелінійність енергетичної характеристики, який має розширений діапазон вимірювання енергетичних одиниць в ультрафіолетовому діапазоні та мінімальні похибки їх вимірювання.
Разработан комплекс метрологического оборудования для обеспечения метрологических исследований ЗСТ, предназначенных для измерения таких параметров УФ излучения как энергетическая освещенность, спектральный диапазон и нелинейность энергетической характеристики, который имеет расширенный диапазон измерения энергетических единиц в ультрафиолетовом диапазоне.
Додаткові точки доступу: