Применение микроволновой спектроскопии для контроля качества поверхности материалов, подвергнутых радиационному воздействию [Текст] / А. И. Спольник, И. В. Волчок, Л. М. Калиберда, М. А. Чегорян //
Актуальные вопросы теоретической и прикладной биофизики, физики и химии : материалы VI Междунар. науч.-техн. конф., г. Севастополь, 26-30 апр. 2010 г. - Севастополь : БФФХ, . - Т. 1. - С. 17-19..
Додаткові точки доступу: