
>
620.18(075)
Б 90
Бублик, Владимир Тимофеевич.Методы исследования структуры полупроводников и металлов [Текст] : учеб. пособие / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина. - М. : Металлургия, 1978. - 272 с. : рис. - Библиогр.: с. 271-272
Ключові слова: световая микроскопия -- світлова мікроскопія -- применение -- застосування -- ренгеновские дифракционные методы -- рентгенівські дифракційні методи -- дифракция электронов и нейтронов -- дифракція електронів і нейтронів -- основы нейронографии -- основи нейронографії --
Додаткові точки доступу:
Дубровина, Анна-Аида Николаевна
Б 90
Бублик, Владимир Тимофеевич.
УДК | |
620.18(075) |
Ключові слова: световая микроскопия -- світлова мікроскопія -- применение -- застосування -- ренгеновские дифракционные методы -- рентгенівські дифракційні методи -- дифракция электронов и нейтронов -- дифракція електронів і нейтронів -- основы нейронографии -- основи нейронографії --
Додаткові точки доступу:
Дубровина, Анна-Аида Николаевна
Кількість примірників на окремих абонементах
# | Відділ | Всього примірників | Вільних примірників |
---|---|---|---|
1 | Абонемент б. п. №1 (пр. Героїв Харкова, 45) | 4 | 4 |
Інвентарні номери примірників на окремих абонементах
# | Відділ | інвентарні номери |
---|---|---|
1 | Абонемент б. п. №1 (пр. Героїв Харкова, 45) | 225041 225042 225043 225044 |
# | Факультет | Спеціальність | Дисципліна | Семестр |
---|
# | Посилання | Кількість завантажень / переходів |
---|