620.18(075)
Б 90
.
Методы исследования структуры полупроводников и металлов [Текст] : учеб. пособие / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина. - М. : Металлургия, . - 272 с. : рис. - Библиогр.: с. 271-272

УДК
620.18(075)

Ключові слова: световая микроскопия -- світлова мікроскопія -- применение -- застосування -- ренгеновские дифракционные методы -- рентгенівські дифракційні методи -- дифракция электронов и нейтронов -- дифракція електронів і нейтронів -- основы нейронографии -- основи нейронографії --
Додаткові точки доступу: