В 85
| УДК | |
| 006.91 | |
| 620.3 |
Ключові слова: метрологія -- метрология -- нанотехнологія -- нанотехнология -- вимірювання -- измерения -- спектроскопія -- спектроскопия -- хроматографія -- хроматография -- мікроскопія -- микроскопия -- дифракційний аналіз -- дифракционный анализ -- наноструктура --
Додаткові точки доступу:
Коротун, Андрій Віталійович
Коржик, Володимир Миколайович
Рубіш, Василь Михайлович
Петров, Вячеслав Васильович
Крючин, Андрій Андрійович
Смирнова, Ніна Анатоліївна
Погосов, Валентин Вальтерович
Ін-т проблем реєстрації інформації Нац. акад. наук України
Кількість примірників на окремих абонементах
| # | Відділ | Всього примірників | Вільних примірників |
|---|---|---|---|
| 1 | Абонемент б. п. №1 (пр. Героїв Харкова, 45) | 1 | 1 |
Інвентарні номери примірників на окремих абонементах
| # | Відділ | інвентарні номери |
|---|---|---|
| 1 | Абонемент б. п. №1 (пр. Героїв Харкова, 45) | 358750 |
| # | Факультет | Спеціальність | Дисципліна | Семестр |
|---|
| # | Посилання | Кількість завантажень / переходів |
|---|